通常，要想充分了解您的样本，您需要结合多种显微镜成像技术或对比技术。假设您想要了解大脑部位相关的突触超微结构，或者评估材料样本中的夹杂物是否为金属物质，亦或是在分析您工艺的技术洁净度时测定颗粒物是否达到临界值。在这些案例及其它应用情况下，仅凭借显微镜检查一种方法并不能解决所有难题。
您可以使用光电关联显微成像技术（CLEM）解决部分难题，近年来蔡司显微镜在该领域取得了开拓性进展。光电联用技术将光学显微镜的灵活性和大视野的特点与电子显微镜的分析功能和纳米级分辨率相结合。现如今，使用ZEN Connect，您可以整合所有的成像技术（包括蔡司或者非蔡司的系统），攻克您所面对的技术难题。ZEN Connect可帮助您结合跨尺度和成像模式的多个样本视角。
首先，您可以在任何低放大倍率系统中获得大样本的概览图像，然后移至共聚焦显微镜或电子显微镜并对齐。只需操作一次。现在，您可使用ZEN Connect软件在概览图像上进行导航，所有后续图像将自动出现在背景中。或者您可以仅使用ZEN Connect对齐并叠加任意来源的图像。不同模态的数据会自动重新关联定位并叠加，然后以项目的形式存储，并带有直观的图像标签。ZEN Connect可始终在相关背景下显示您所需的数据 - 您可获得独特的洞察力，提高效率并节省时间。
ZEN Connect可扩大传统关联显微镜的检查范围，适用于所有图像：您可加载复杂的多维图像，就像从手机获取简要的概览图像一样简单。使用蔡司或任意第三方的成像技术对结果无任何影响。所有图像数据均可在背景下对齐、叠加和显示。只要您的外部图像符合公认的生物成像格式标准，ZEN Connect甚至可保存其元数据。
使用蔡司的体式显微镜或其他任意的低放大倍率的显微镜获取样本图像。接着，移动样本至您所选择的高分辨率显微系统。使用ZEN Connect，只需对齐一次，接着即可使用概览图像查找您的ROI（感兴趣的区域）。当您在不同分辨率域和成像技术间放大或缩小时，将显示背景下的所有后续高分辨率图像。只需单击概览图像即可到达相应位置，您可以检查或重新评估完整叠加图像中的ROI。
使用ZEN Connect所获取的所有图像均保存在结构完善的数据库项目中，并为每个图像文件自动附加直观的标签。在进行分析时，无论是在试验期间还是过后数月，您可始终对工作了如指掌。可轻松找到所有叠加图像及其关联的数据集。您甚至可以利用ZEN Connect的新过滤功能搜索显微镜类型和成像参数
