Atlas 5可以简化您的生活：以样本为中心的相关环境下为您创建多尺度、多模式的综合图片。

Atlas 5集强大的硬件和软件为一体，大大拓展了蔡司扫描电镜（SEM）及蔡司聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）的应用范围。无论您的图像是来自光学显微镜还是X射线显微镜，您都可以信赖Atlas 5高效的浏览及关联功能。充分利用其高效及自动化大面积成像的功能。独特的工作流程将会帮助您获取样品更深层次的信息。

它的模块化结构允许您根据需求进行调整。无论是在材料研究还是生命科学领域，它都将是您不可或缺的好帮手。

蔡司电子显微镜的Atlas 5配有16位的扫描发生器和双超级样品信号采集器，以及图像处理与控制软件。扫描电子显微镜所获取的图像像素可达32 k x 32 k，在聚焦离子束扫描电子显微镜中可达40 k x 50 k，驻留时间从100ns到100s以上（以100ns递增可调），并可以以8位或16位保存图像。

     ●  无需过多的拼贴就可以获取高质量图像并且降低了计算复杂性

     ●  加快了系统运行速度

     ●  无需过多的图像拼接重合，保证样本免受射束损伤

     ●  定义感兴趣的区域，然后根据预设的成像条件对所选定区域进行扫描。通过制定流程和理想的成像条件，可实现令人满意的重复结果。

     ●  在长时间的采集图像过程中，借助先进的自动对焦和自动消象散可保持图像的清晰度。

     ●  根据您的需求，可随时随地对样本进行成像：Atlas 5支持在不同设备上进行多任务操作。

     ●  以样品为中心的Atlas 5关联工作站，可处理来至不同设备的二维图像和三维数据。

     ●  可导入光镜，X射线显微镜，电镜或聚焦离子束显微镜图像并校准以获得单一的、一致的图像。

     ●  关联ZEISS FIB-SEM观察的表面特征点与ZEISS X射线显微镜扫描的相应特征点。

     ●  可使用X射线显微镜数据对3D的内部特征进行精确的定位，并使用于FIB中，即使不能原位的观察到特征点。

     ●  然后可使用ZEISS FIB-SEM导航到相应的特征区域。

了解蔡司Atlas 5各个模块的特征及配置。通过选用Atlas 5来拓宽蔡司扫描电子显微镜和聚焦离子束扫描电子显微镜应用范围。通过其他模块的高级功能获益并进一步了解它们整合的原理。

Atlas 5的模块都是以Atlas 5为基础的。对于阵列刻蚀，3D成像和NPVE软件是需要高级工具包的。离线版高级工具包包含离线版的Atlas基础版。

工作流导向的快速采集图像平台。关联工作平台可融合不同设备，探测器和位置。可导入原始及拼接图像（BMP, JPG, TIF, CZI, TXM）。基于二维自动成像采集的协议。超大得存储像素能够达到32k x 32k, 100纳秒, 8位/16位, 双通道。xROI成像（精确的感兴趣区域）。手动拼接二维马赛克图像。

导入不同的文件源及拼接图像，高级图像校正（梯度校正，径向校正以及按通道校正），高级自动拼接，导出影像格式，导出至基于浏览器的图像查看器用于网络协议的数据交互。优化图像采集程序。使用通道进行多通道数据的导出或混合。可在导向的工作流中检阅整体图像。高效地检阅SEM的2D图像并对有问题的图像进行自动地重新采集。

阵列刻蚀设置工具：用于截面定义的克隆工具，用于自动截面定义的截面对齐工具，用于定义子截面位置的高效管理工具。图像堆栈浏览器以及图像栈导出选项。

三维双束显微镜（FIB-SEM）成像包含自动样品制备，感兴趣区域的成像，先进的样品追踪，切割厚度的跟踪，预设定的漂移矫正及图像的自动调整。以及FIB-SEM图像堆栈校准、裁剪和输出功能的图像堆栈观察软件。

对几何图形和参数进行先行控制。同步控制离子束和电子束进行刻蚀与成像。对离子束智能控制的操作宏命令以及连续刻蚀和大面积沉积的GIS参数设置。优化实验设计的参数设置、3D结构和阵列建立功能。也支持导入CAD文件（GDSII, DXF）进行刻蚀。